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放射性低本底γ能譜檢測(cè)儀

更新時(shí)間:2023-08-30

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廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

生產(chǎn)地址:北京美華儀科技有限公司

簡(jiǎn)要描述:
放射性低本底γ能譜檢測(cè)儀應(yīng)用領(lǐng)域



l建材、土壤、生物、地質(zhì)樣品等 γ 能譜測(cè)量分析;



l建筑材料的快速無損檢測(cè);



l鈾礦地質(zhì)樣品鐳(鈾)、釷、鉀含量分析;



可按用戶要求配備鈾、銫、鈷、碘等人工核素分析軟件
品牌其他品牌產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),建材,電子

放射性低本底γ能譜檢測(cè)儀  核輻射檢測(cè)儀 水質(zhì)核輻射監(jiān)測(cè)儀  低本底伽馬能譜檢測(cè)儀型號(hào):MHY-18230

MHY-18230低本底伽馬能譜檢測(cè)儀采用低本底鉛室及低鉀 NaI(Tl)探頭實(shí)現(xiàn)對(duì)待檢測(cè)樣品的放射性測(cè)量,基于高性能數(shù)字化能譜儀實(shí)現(xiàn)對(duì) NaITl)探頭的高精度伽馬能譜測(cè)量,通過上位機(jī)能譜測(cè)量與分析軟件實(shí)現(xiàn)對(duì)能譜的采集、存儲(chǔ)、處理與解譜分析,最終實(shí)現(xiàn)對(duì)檢測(cè)樣品中放射性核素的識(shí)別與放射性比活度的測(cè)量。本檢測(cè)儀包括低本底鉛室、低本底 NaI(Tl)伽馬輻射探頭、桌面式數(shù)字化能譜儀、伽馬能譜測(cè)量與解譜軟件組成。具備自動(dòng)穩(wěn)譜技術(shù),長(zhǎng)期連續(xù)工作穩(wěn)定性和測(cè)量精度

 

放射性低本底γ能譜檢測(cè)儀應(yīng)用領(lǐng)域

 

l建材、土壤、生物、地質(zhì)樣品等 γ 能譜測(cè)量分析;

 

l建筑材料的快速無損檢測(cè);

 

l鈾礦地質(zhì)樣品鐳()、釷、鉀含量分析;

 

可按用戶要求配備鈾、銫、鈷、碘等人工核素分析軟件

 

系統(tǒng)組成

 

l低本底鉛室;

 

l低本底 NaITl)伽馬輻射探頭(探測(cè)器可選配溴化鑭或高純鍺);

 

l桌面式數(shù)字化能譜儀;

 

l伽馬能譜測(cè)量與解譜軟件。

 

功能特點(diǎn)

 

l具備實(shí)時(shí)快速低能γ射線穩(wěn)譜技術(shù)的低本底數(shù)字化能譜儀,可開機(jī)快速測(cè)量以及長(zhǎng)期穩(wěn)定性;傳統(tǒng)低本底數(shù)字化能譜儀需要人工反復(fù)調(diào)整譜儀參數(shù)才能夠工作,且無法長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定工作;

 

l自帶數(shù)字化穩(wěn)譜功能,可選擇本底镅源γ射線穩(wěn)譜、天然特征峰穩(wěn)譜等數(shù)字化穩(wěn)譜方式;

 

l支持粒子圖譜、能譜曲線、梯形成形信號(hào)與原始脈沖信號(hào)顯示;

 

l數(shù)字化能譜儀具備 LIST-MODE 模式,可實(shí)現(xiàn)粒子事件信息(時(shí)間、位置、幅度等)的實(shí)時(shí)采集,各通道數(shù)字化譜儀具備時(shí)鐘同步功能,同步精度不低于 15ns;粒子事件信息可傳輸?shù)接?jì)算機(jī)上成譜,從而滿足快速移動(dòng)測(cè)量的要求;

 

l雙譜測(cè)量:支持能譜與時(shí)間譜測(cè)量;

 

l高分辨率:采用 16 80MSPS 高速高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換器;

 

l高數(shù)字成形頻率:數(shù)字成形頻率高達(dá) 80MHz;

 

l多通道輸入:8 路符合\反符合輸入及一路高速外部時(shí)鐘同步輸入;

 

l全波采集,無脈沖漏計(jì),具有基線修正、干擾識(shí)別等智能化功能,PMT 輸出信號(hào)直通, 波形無畸變,將 Cs 峰放在測(cè)量范圍的任意道址都能測(cè)得一致的分辨率;

 

l高數(shù)據(jù)通過率:>500kcps1us 成形時(shí)間),高速傳輸,;

 

l可視化測(cè)量顯示,具有信號(hào)波形、基線在線監(jiān)測(cè)及測(cè)量結(jié)果實(shí)時(shí)分析等功能;

 

l具有峰位監(jiān)測(cè)功能,數(shù)據(jù)采集質(zhì)量;

 

l特征譜段綜合分析解譜,全譜檢驗(yàn)、多譜線對(duì)比等功能,可用于科研、教學(xué)及技術(shù)培訓(xùn)等。

 

技術(shù)指標(biāo)

 

l探測(cè)器:Φ50×50 mm NaI(Tl)晶體

 

l總道數(shù):512、1024、20484096、8192、16384 道任選,標(biāo)準(zhǔn)道數(shù):2048

 

l能量分辨率:<7.5%(137Cs)

 

l儀器本底:≤4.5cps(50kev ~ 3Mev)

 

l微分非線性:<0.05%

 

l積分非線性:<0.10%

 

l穩(wěn)定性:相對(duì)誤差 ≤ 1.0% (24h)

 

l脈沖對(duì)分辨率:450ns

 

l儀器檢出限:226Ra8.0 Bg/kg;232Th6.0 Bg/kg40K20.0 Bg/kg

 

l數(shù)據(jù)通過率: 500 kcps1us 成形時(shí)間)

 

l測(cè)量不確定度(樣品放射性活度>37Bq/kg)<10%

 

l電  源:220V(±10%) 50Hz

 

l溫度范圍:+5~ +40

 

l相對(duì)濕度:≤90%


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