表面阻抗測(cè)試儀 型號(hào):MHY-21915

表面阻抗測(cè)試儀四探針方案-觸式度的各種材料的表面電阻率測(cè)量。
查找只需按下啟動(dòng)按鈕，確認(rèn)自動(dòng)測(cè)量能，可自動(dòng)保持當(dāng)前的測(cè)量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準(zhǔn)模式。檢查探頭校準(zhǔn)片（另售），以確認(rèn)Roresuta AX測(cè)試值的準(zhǔn)確性。
測(cè)量數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到USB存儲(chǔ)器。

規(guī)格 
測(cè)量方法 四端四探針法
施加恒定電的方法 
測(cè)量范圍 10 -2～10 6 Ω 
標(biāo)準(zhǔn)配置 四探針探頭（ASP）AC適配器 說明書 檢查確認(rèn)書 

選項(xiàng) 
探頭選項(xiàng) 
類型 適用被測(cè)試樣品 型號(hào) 
ESP 對(duì)于異類樣本 MCP - TP08P 
PSP 小樣本的薄膜 MCP - TP06P 
QPP 對(duì)于小樣本 MCP - TPQPP 
TFP 有關(guān)硅晶片或玻璃基板薄膜 MCP - TFP 

校準(zhǔn)塊 型號(hào)：MCP - TRF1 

北京美華儀科有限公司