薄膜測(cè)厚儀,又稱為測(cè)厚儀、薄膜厚度檢測(cè)儀、薄膜厚度儀等,薄膜測(cè)厚儀業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)的接觸面積和測(cè)量壓力,同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
測(cè)試過(guò)程中測(cè)量頭自動(dòng)升降,有效避免了人為因素成的系統(tǒng)誤差
支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式,方便用戶自由選擇
系統(tǒng)自動(dòng)樣,樣步距、測(cè)量點(diǎn)數(shù)和樣速度等相關(guān)參數(shù)均可由用戶自行設(shè)定
實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的大/小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù),方便用戶行判斷
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定,保證測(cè)試的度和數(shù)據(jù)致性
系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用能,方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果
系統(tǒng)由微電腦控制,搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板,方便用戶行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看
標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口,便于系統(tǒng)與電腦的外連接和數(shù)據(jù)傳輸
支持Lystem™實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng),統(tǒng)管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告
使用兩個(gè)激光傳感器安裝在被測(cè)物(紙張)上下方,將傳感器固定在穩(wěn)定的支架上,確保兩個(gè)傳感器的激光能對(duì)在同點(diǎn)上。隨著被測(cè)物的移動(dòng)傳感器就開始對(duì)其表面行采樣,分別測(cè)量出目標(biāo)上下表面分別與上下成對(duì)的激光位移傳感器距離,測(cè)量值通過(guò)串口傳輸?shù)接?jì)算機(jī),再通過(guò)我們?cè)谟?jì)算機(jī)上的測(cè)厚軟件行處理,得到目標(biāo)的厚度值。
非接觸式薄膜測(cè)厚儀的出現(xiàn),大大提了紙張等片材厚度測(cè)量的度,尤其是在自動(dòng)化線上,得到廣泛應(yīng)用。
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