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電容電壓特性測試儀

更新時間:2023-08-16

訪問量:553

廠商性質:生產(chǎn)廠家

生產(chǎn)地址:北京美華儀科技有限公司

簡要描述:
MHY-29375電容電壓特性測試儀引言

MHY-29375型電容電壓(C-V)特性測試儀是測試頻率為1MHz的數(shù)字式電容測試儀器。用于測量半導體器件PN結勢壘在不同偏壓下的電容量,也可測試其它電容。
品牌其他品牌產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應用領域環(huán)保,化工,電子,汽車,電氣

電容電壓特性測試儀  型號:MHY-29375

 

MHY-29375電容電壓特性測試儀引言

MHY-29375型電容電壓(C-V)特性測試儀是測試頻率為1MHz的數(shù)字式電容測試儀器。用于測量半導體器件PN結勢壘在不同偏壓下的電容量,也可測試其它電容。

儀器有較高的分辨率,電容量是四位讀數(shù),可分辨到0.001pF,偏置電壓分辨率為0.01V,漏電流分辨率為0.01μA0.1μA(可選)。

該測試儀器性能穩(wěn)定可靠,適用于元件生產(chǎn)廠家,科研部門,高等院校等單位。

2. 原理

CV法利用PN結或肖特基勢壘在反向偏壓時的電容特性,可以獲得材料中雜質濃度及其分布的信息,這類測量成為C-V測量技術。這種測量可以提供材料橫截面均勻性及縱向雜質濃度的分布信息。

組成半導體器件的基本結構的PN結具有電容效應(勢壘電容),加正向偏壓時,PN結勢壘區(qū)變窄,勢壘電容變大;加反向偏壓時,PN結勢壘區(qū)變寬,勢壘電容變小。

該儀器采用電流電壓測量方法,它用微處理器通過8 次電壓測量來計算每次測量后要求的參數(shù)值。用一個相敏檢波器和模數(shù)轉換器順序快速完成電壓測量。正交測量通過交換測量信號的相位來進行,而不是參考相位檢測。因而不需要精密的模擬相位轉換成電壓矩形波電路。通過從同一個高頻信號源形成測試信號和參考信號,來保證正確的相位關系。由微處理器根據(jù)已知的頻率和測試信號相位,用ROM 存儲器內的程序和所存儲的按鍵選擇來控制測量順序,以及存儲在RAM 中的校準數(shù)據(jù)來計算被測元件數(shù)值。

 MHY-29375技術參數(shù)

3.1. 測試信號頻率:1.000MHz±0.01%

3.2. 測試信號電壓:≤100mVrms

3.3. 測量速率:慢3/秒,快5/

3.4. 測量范圍:

電容C0.001-10000 pF

漏電流:0.01-19.99μA

3.5. 直流偏壓:儀器自帶偏壓0.01-35V,分辨率:0.01V;(可外接偏壓源拓展,最大偏壓輸入為100V

3.6. 工作誤差:±5.0%±2

3.7. 預熱時間:30min

3.8. 供電電源:

交流電壓:220V±10%,頻率:50Hz±5%,消耗功率:≤40W

3.9. 工作環(huán)境

        溫度:0-40℃, 濕度:≤65%


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