.變溫霍爾效應實驗儀. 型號：MHY-20948

霍爾效應的測量是開展半導體研究的重要方法。本機利用計算機的數據采集和處理在80K-400K溫度范圍內對霍爾系數和電導率的聯(lián)合測量，行半導體導電機制及散射機制的研究，并可確定半導體的些基本參數，如導電類型、載子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質電離能等。         
.變溫霍爾效應實驗儀.主要標
1．電磁鐵          0-300mT連續(xù)可調
2. 勵磁電源       0-5A連續(xù)可調  可自動換向       穩(wěn)定性﹤±0.1%
3. 數字斯拉計              0-2000mT       三位半數字顯示   分辨率0.001
4. 恒源輸出       1mA       穩(wěn)定性±0.1%
5. 數據采集系統(tǒng)霍爾電壓測量zui小分辨率1uV
6. 溫度變化測量范圍           80-400K
7. 整套儀器由電磁鐵系統(tǒng)、電源控制系統(tǒng)機箱、測量系統(tǒng)主機、恒溫器四分組成
8. 探頭樣品采用單晶鍺片