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便攜式四探針測試儀

更新時(shí)間:2015-09-17

訪問量:1067

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

生產(chǎn)地址:北京美華儀科技有限公司

簡要描述:
MHY-25917/TS-2A型便攜式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的,用于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
品牌TESTO/德國德圖

便攜式四探針測試儀/四探針檢測儀/電阻率檢測儀 型號(hào):MHY-25917

測量范圍寬、度、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作的便攜式
 體積僅為:125mm(寬)*145mm()*245mm(深)
 
 
  MHY-25917/TS-2A型便攜式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的,用于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
    儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數(shù)快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等點(diǎn)。如有需要可加配測試臺(tái)使用。
    本儀器廣泛應(yīng)用于太陽能單晶(多晶)廠家為硅材料的分選測試,半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。


 術(shù)  標(biāo) :
 
按測量范圍可選配MHY-25917型或MHY-25917A型,區(qū)別:測量范圍不樣。
 
 
 
 MHY-25917測量范圍
  電阻率:0.01~1999.9Ω.cm; 
 方塊電阻:0.1~19999Ω/□;
 
 MHY-25917A測量范圍
  電阻率:0.001~199.99Ω.cm; 
 方塊電阻:0.01~1999.9Ω/□;
 
MHY-25917恒源
  電量程分為100μA、1mA兩檔,各檔電連續(xù)可調(diào)
 
MHY-25917A恒源
  電量程分為1mA、10mA兩檔,各檔電連續(xù)可調(diào)
 
數(shù)字電壓表
  量程及表示形式:000.00~199.99mV;    
 分辨力:10μV;
 輸入阻抗:>1000MΩ;
 度:±0.1% ;
 顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;性、量程自動(dòng)顯示;
 
四探針探頭基本標(biāo)
  間距:1±0.01mm;
 針間緣電阻:≥1000MΩ;
 機(jī)械游移率:≤0.3%;
 探針:碳化鎢或速鋼Ф0.5mm;
 探針壓力:5~16 牛頓(總力);
 
四探針探頭應(yīng)用參數(shù)
  (見探頭附帶的合格證)
 
模擬電阻測量相對誤差
( 按JJG508-87行)
  1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
 
整機(jī)測量zui大相對誤差
 (用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm測試)≤±5%
 
整機(jī)測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度
  ≤5%
 
外型尺寸
  125mm(寬)*145mm()*245mm(深)
 
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境
  溫度:23±2℃;
 相對濕度:≤65%;
 無頻干擾;
 無強(qiáng)光直射;

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