安規(guī)測(cè)試儀用于電壓元、器件的耐壓測(cè)量試驗(yàn)（用交、直耐壓儀），如硅堆等。主要是用來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品是否漏電、是否接地良好、會(huì)不會(huì)傷害人身安的用，主要檢測(cè)項(xiàng)目有電壓、泄漏電、緣電阻和接地電阻。

注意事項(xiàng)

注意的是直壓輸出是負(fù)電壓，而地為正。測(cè)試電容時(shí)，在電容器兩端加上電壓時(shí)有充電過(guò)程，此時(shí)在測(cè)試電路中有充電電，當(dāng)該電大于所設(shè)定的漏電電值時(shí)，耐壓測(cè)試儀就會(huì)報(bào)警，使測(cè)試中斷，無(wú)法行。因此，安規(guī)測(cè)試儀在測(cè)試時(shí)，應(yīng)緩慢增加電壓，充電電小于所設(shè)定的漏電電值，直到規(guī)定測(cè)試電壓，行測(cè)試。而不能采用固定電壓，復(fù)位-啟動(dòng)方式行測(cè)試.在交回路中相當(dāng)于直回路中的電阻，因此，安規(guī)測(cè)試儀在交回路中就產(chǎn)生個(gè)電，當(dāng)該電大于所設(shè)定的漏電值時(shí)，耐壓測(cè)試儀就會(huì)報(bào)警，使得測(cè)試中斷，無(wú)法行。因此，在測(cè)試前，應(yīng)計(jì)算好電容器的容抗(Xc)，再算出在測(cè)試電壓下的回路電值，然后調(diào)節(jié)耐壓測(cè)試儀漏電預(yù)置值，使其略大于回路電值，再行測(cè)試。J)測(cè)試電纜等分布電容大的元件(設(shè)備)要等同于電容器測(cè)試。

1、 何謂耐壓測(cè)試?

耐壓測(cè)試是常見(jiàn)的安規(guī)測(cè)試之，常見(jiàn)的dielectric withstand、high potential、hipot test都是耐壓測(cè)試。耐壓測(cè)試的主要目的測(cè)試DUT(Device under Test)的緣能力。故當(dāng)設(shè)備在運(yùn)作時(shí)，對(duì)測(cè)試點(diǎn)施以壓，測(cè)試是否有緣破壞(Breakdown)或電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC)發(fā)生。

2 、在安規(guī)中緣有幾種類(lèi)型?

緣類(lèi)型分為四種:基本緣(Basic)、輔助緣(Supplementary)、雙重緣(Double)以及加強(qiáng)緣(Reinforced)。由於產(chǎn)品內(nèi)可能因灰塵過(guò)多、潮濕或是其他原因?qū)е卵孛娣烹?，因此也須以耐壓測(cè)試判斷產(chǎn)品內(nèi)電路是否有沿面距離或緣不足等問(wèn)題。

3 、在AC耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要real current 的判斷?

AC輸出總電(total current)可能因份內(nèi)容抗而成與真實(shí)測(cè)試電(real current)之間的差異。電在輸出時(shí)，若受到較大容抗時(shí)，反應(yīng)電(reactive)會(huì)較大，而使得真實(shí)測(cè)試電相對(duì)變小。若無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)量輸出電與加以補(bǔ)償，會(huì)成測(cè)試上的盲點(diǎn)。

4 、在DC耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要緩升時(shí)間?

DC耐壓測(cè)試通常會(huì)需要加上緩升時(shí)間以及放電時(shí)間，因?yàn)榇蠖嗟腄UT具有電容性而會(huì)導(dǎo)致充電電產(chǎn)生。為了使充電變位電(charge current)穩(wěn)定，需要緩升時(shí)間來(lái)緩沖，才不會(huì)因充電電而導(dǎo)致漏電過(guò)，而判斷為不良品(FAIL)。

5 、在做耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要緩降時(shí)間?

耐壓測(cè)試會(huì)使DUT充電，因此在耐壓測(cè)試結(jié)束時(shí)須段時(shí)間來(lái)行放電，優(yōu)良的耐壓測(cè)試設(shè)備會(huì)將放電時(shí)間減至較少，并且在未達(dá)放電標(biāo)準(zhǔn)前會(huì)明顯標(biāo)示危險(xiǎn)警告，以防止測(cè)試人員不當(dāng)接觸而受到電氣傷害。

6 、何謂flashover 電氣閃絡(luò)(ARC)?

安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)中明顯出不得有緣破壞(Breakdown)發(fā)生，而份安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)更要求不得有電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC發(fā)生，但并無(wú)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。ARC是屬於電氣放電的種，當(dāng)ARC發(fā)生時(shí)已表示緣能力已不足，若多次的ARC發(fā)生，則會(huì)導(dǎo)致緣破壞。

7 、為何需要做電壓補(bǔ)償?

在耐壓測(cè)試中，測(cè)試電壓的標(biāo)準(zhǔn)是判斷良品的主要因素之。許多耐壓測(cè)試設(shè)備以變壓器將低電壓轉(zhuǎn)換為電壓后輸出，但儀器的內(nèi)阻抗會(huì)成分壓，尤其在些不良的耐壓測(cè)試設(shè)備中，實(shí)際輸出電壓無(wú)法達(dá)到安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。為避免失誤判定為良品而成不的困擾，優(yōu)良的耐壓測(cè)試設(shè)備會(huì)以自動(dòng)增益補(bǔ)償(Auto Gain Compensation)修正與補(bǔ)償電壓至所須電壓值，并將電壓表於輸出端，以便正確量測(cè)輸出電壓是否不足。

8 、何謂接地阻抗測(cè)試?

接地保護(hù)有二種測(cè)試方法:接地連續(xù)測(cè)試(Ground Continuity test, GC)及接地連接測(cè)試(Ground Bond test, GB)。接地保護(hù)測(cè)試的目的在於不讓使用者在不當(dāng)電產(chǎn)生時(shí)，電會(huì)向大地，接觸機(jī)體則不會(huì)導(dǎo)致電氣危害。

9 、何謂緣電阻測(cè)試?

緣阻抗測(cè)試和直耐壓測(cè)試是非常相似的，於相關(guān)連的兩點(diǎn)施以直電壓(50~1000V)，可判定良品及不良品。緣阻抗測(cè)試為非破壞試驗(yàn)，且能偵測(cè)緣是否良好，在某些規(guī)范中，是做緣阻抗測(cè)試再行耐壓測(cè)試，而緣阻抗測(cè)試無(wú)法通過(guò)時(shí)，往往耐壓測(cè)試也無(wú)法通過(guò)。

10、 何謂漏電?

當(dāng)電經(jīng)過(guò)緣阻抗后溢出，稱(chēng)之為漏電(Leakage current)，當(dāng)漏電經(jīng)由人體接觸，使電經(jīng)過(guò)人體后向Earth，即成電氣傷害。漏電測(cè)試與耐壓測(cè)試、接地保護(hù)測(cè)試的不同處，在於設(shè)備是在運(yùn)作狀態(tài)下做測(cè)試。漏電測(cè)試中會(huì)加上個(gè)人體模擬阻抗電路，可模擬在漏電經(jīng)過(guò)人體的大小。